Поляризационно-оптический метод исследования

Определение "Поляризационно-оптический метод исследования" в Большой Советской Энциклопедии

Круговой полярископ (схема)

Поляризационно-оптический метод исследования напряжении, метод изучения напряжений в деталях машин и строительных конструкциях на прозрачных моделях. Основан на свойстве большинства прозрачных изотропных материалов (стекло, целлулоид, желатин, пластмассы - оптически чувствительные или пьезооптические материалы) становиться при деформации оптически анизотропными, т. е. на возникновении искусственного двойного лучепреломления (т. н. пьезооптического эффекта). Главные значения тензора диэлектрической проницаемости линейно связаны с главными напряжениями. Так, например, для пластинки, нагруженной в своей плоскости, одно главное напряжение s_з, направленное нормально к пластинке (рис. 1, а), равно нулю и одна из главных плоскостей оптической симметрии совпадает с плоскостью пластинки. Если на пластинку D в круговом полярископе (рис. 2) падает свет перпендикулярно к её плоскости, то оптическая разность хода равна: D = d (n₁ - n₂) или D = cd (s₁ - s₂), где d - толщина пластинки, (s₁ и s₂ - главные напряжения, с - т. н. относительный оптический коэффициент напряжений. Это уравнение (т. н. уравнение Вертгейма) - основное при решении плоских задач П.-о. м. и. При просвечивании монохроматическим светом в точках интерференционного изображения модели, в которых D = ml (m - целое число), наблюдается погашение света; в точках, где D = (2m + 1)l/2, - максимальная освещённость. На изображении модели (рис. 3) получаются светлые и тёмные полосы разных порядков m (картина полос). Точки, лежащие на одной и той же полосе, имеют одинаковую D, т. е. одинаковые s₁ - s₂ = 2t_мах = D/cd (гдеt_мах - максимальные скалывающие напряжения). При белом свете точки с одинаковыми t_max соединяются линиями одинаковой окраски - изохромами.

Пластинка и элемент объёма в напряжённом состоянии

Для определения s₁ - s₂ (или t_max) в данной точке достаточно определить с для материала модели и измерить компенсатором D или можно определить (s₀ модели и подсчитать порядок полосы m (s₀ = l/cd - разность главных напряжений в модели, вызывающих разность хода D = l; с и s₀ получают при простом растяжении, сжатии или чистом изгибе на образцах из материала модели). Т. к. при нормальном просвечивании плоской модели можно получить только разность главных напряжений и их направление, то для определения (s₁ и s₂ в отдельности существуют дополнительные физико-механические способы измерения (s₁ + s₂, а также графовычислительные методы разделения (s₁ и s₂ по известным s₁ - s₂ и их направлению, использующие уравнения механики сплошной среды.

Равномерное растягивание пластинки с круглым отверстием

Для исследования напряжений на объёмных моделях применяется более сложная техника эксперимента. Объёмная модель часто исследуется с применением метода «замораживания» деформаций. Модель из материала, обладающего свойством «замораживания» (отверждённые эпоксидные, фенолформальдегидные смолы и др.), нагревается до температуры высокоэластического состояния, нагружается и под нагрузкой охлаждается до комнатной температуры (температуры стеклования). После снятия нагрузки деформации, возникающие в высокоэластическом состоянии, и сопровождающая их оптическая анизотропия фиксируются. Наглядно описать это явление можно при помощи условной двухфазной модели материала. При нагреве до 80-120 °С (высокоэластическое состояние) одна часть материала размягчается, другая остаётся упругой. Нагрузке, приложенной к нагретой модели, противостоит неразмягчающийся скелет. При охлаждении нагруженной модели до комнатной температуры размягчающаяся часть снова застывает («замораживается») и удерживает деформацию в скелете после снятия нагрузки. «Замороженную» модель распиливают на тонкие пластинки (срезы) толщиной 0,6- 2 мм, которые исследуют в обычном полярископе.

Применяется также метод рассеянного света, при котором тонкий пучок параллельных лучей поляризованного света пропускается через объёмную модель и даёт в каждой точке на своём пути рассеянный свет, который наблюдается в направлении, перпендикулярном к пучку. Состояние поляризации по линии каждого луча от точки к точке меняется соответственно напряжениям в этих точках. Существует метод, при котором в изготовленную из оптически нечувствительного к напряжениям прозрачного материала (специальные органические стекла) объёмную модель вклеивают тонкие пластинки из оптически чувствительного материала. Измерения во вклейках проводят, как на плоской модели, - с просвечиванием нормально или под углом к поверхности вклейки.

Описанный П.-о. м. и. применяется для изучения напряжений в плоских и объёмных деталях в пределах упругости в тех случаях, когда применение вычислительных методов затруднено или невозможно. П.-о. м. и. напряжений используется для изучения пластических деформаций (фотопластичность), динамических процессов, температурных напряжений (фототермоупругость), для моделирования при решении задач ползучести (фотоползучесть) и др. нелинейных задач механики деформируемого тела.

Разработан также метод оптически чувствительных наклеек (слоев), наносимых на поверхности натурных деталей. Слой оптически чувствительного материала наносится на поверхность металлической детали или её модели в жидком виде и затем подвергается полимеризации или наклеивается на деталь в виде пластинки; это обеспечивает равенство деформаций нагруженной детали и покрытия. Деформации в покрытии определяются по измеренной в нём разности хода в отражённом свете при помощи односторонних полярископов.

Так как П.-о. м. и. напряжений ведутся на моделях, то они заканчиваются переходом от напряжений в модели к напряжениям в детали. В простейшем случае s_дет = s_мод b/a², где a и b - масштабы геометрического и силового подобий.

Лит.: Пригоровский Н. И., Поляризационно-оптический метод исследования распределения напряжений, в кн.: Справочник машиностроителя, т. 3, М., 1962; Александров А. Я., Ахметзянов М. Х., Поляризационно-оптические методы механики деформируемого тела, М., 1973.
  В. И. Савченко

S - источник света, Р - поляризатор; D - пластинка; l/4 - компенсирующие пластинки; А - анализатор; Э - экран." href="/a_pictures/18/10/210059743.jpg">S - источник света, Р - поляризатор; D - пластинка; l/4 - компенсирующие пластинки; А - анализатор; Э - экран."http://sulphur.atomistry.com/">S - источник света, Р - поляризатор; D - пластинка; l/4 - компенсирующие пластинки; А - анализатор; Э - экран." src="a_pictures/18/10/th_210059743.jpg">
Рис. 2. Схема кругового полярископа: S - источник света, Р - поляризатор; D - пластинка; l/4 - компенсирующие пластинки; А - анализатор; Э - экран.