Топографирование кристалла «на отражение». Метод Шульца
Иллюстрация "Топографирование кристалла «на отражение». Метод Шульца" в Большой Советской Энциклопедии
Рис. 1, а. Схема топографирования кристалла «на отражение» по методу Шульца. Расходящийся из «точечного» (диаметром 25 мкм) фокуса пучок ретгеновских лучей с непрерывным спектром падает на кристалл под углами от J до J", удовлетворяющими условию Лауэ для лин волн от l до l". Отраженный пучок дает его дифракционное изображение на фотопленке.