Топографирование кристалла «на отражение». Метод Шульца

Иллюстрация "Топографирование кристалла «на отражение». Метод Шульца" в Большой Советской Энциклопедии


Топографирование кристалла «на отражение». Метод Шульца

Рис. 1, а. Схема топографирования кристалла «на отражение» по методу Шульца. Расходящийся из «точечного» (диаметром 25 мкм) фокуса пучок ретгеновских лучей с непрерывным спектром падает на кристалл под углами от J до J", удовлетворяющими условию Лауэ для лин волн от l до l". Отраженный пучок дает его дифракционное изображение на фотопленке.

>> Вернуться к статье Рентгеновская топография в БСЭ >>
"БСЭ" >> "Р" >> "РЕ" >> "РЕН"

Картинка "Топографирование кристалла «на отражение». Метод Шульца" в Большой Советской Энциклопедии была показана 1366 раз
Бургер двойного помола
Бургер двойного помола

TOP 20