Топографирование кристаллов в узком параллельном пучке «на просвет». Метод Ланга

Иллюстрация "Топографирование кристаллов в узком параллельном пучке «на просвет». Метод Ланга" в Большой Советской Энциклопедии


Топографирование кристаллов в узком параллельном пучке «на просвет». Метод Ланга

Рис. 5, а. Схема топографирования кристаллов в узком параллельном пучке «на просвет» по методу Ланга. Рентгеновские монохроматические лучи от «точечного» источника выделяются узкой (0,1 мм) щелью так, что на кристалл попадает только излучение Кa1. Дифракционное изображение выделяется второй щелью и фиксируется на фотопластинке. Монохроматичность излучения тем выше, чем больше расстояние А и меньше ширина щели S. Для больших кристаллов необходимо синхронное возвратно-поступательное перемещение кристалла и фотопластинки (щели при этом неподвижны).

>> Вернуться к статье Рентгеновская топография в БСЭ >>
"БСЭ" >> "Р" >> "РЕ" >> "РЕН"

Картинка "Топографирование кристаллов в узком параллельном пучке «на просвет». Метод Ланга" в Большой Советской Энциклопедии была показана 1253 раз
Бургер двойного помола
Сингапурский салат

TOP 20